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コンタクトレンズ中心厚さ及びベースアーク測定システム(超音波法)
UTS 200は*光学オリンパスB 200方案に基づいて改良された超音波測厚計を用いてコンタクトレンズ(コンタクトレンズ)を測定する一連のソリューションであり、接触式測定によるレンズ変形誤差を避けることができ、機器は非接触状態で中心厚さと矢高を同時に測定してベースアーク計算に用いることができる。特製
製品の詳細

測定方法:

測定キャビティ全体はプラスチック水槽とレンズホルダを含み、レンズホルダの直径は既知であり、超音波プローブはレンズホルダの下から穿孔し、レンズ内面に位置し、フォーカス型音波を発する焦点はホルダの中心に位置する。レンズホルダには非常に厚みの小さいプラスチックフィルムが覆われており、プラスチック水槽内には塩溶液が充填されている。被測定角膜接触ミラー凹面を台座上に下向きに置くだけで、プラスチックフィルムは矢高の基準位置となる。

測定時、超音波プローブは塩溶液を貫通する鋭い集束超音波エネルギー短パルスを発生し、このパルスの部分エネルギーはプラスチックフィルム、レンズの内面、レンズの外面、塩溶液の表面からプローブに反射される。このとき、厚み測定器はエコー全体を記録し、それから非常に正確な測定*次エコーと第2次エコー間隔時間、および第2次エコーと第3次エコーの間の時間間隔を記録します。(4回目のエコーは塩溶液表面の反射に対応しており、ここでは無視する。)

*二次エコーと二次エコーとの間の時間間隔がプラスチックフィルムとレンズ内面との間の距離(すなわち矢高)に比例しており、二次エコーと三次エコーとの間の時間間隔がレンズの厚さに対応している。レンズの矢高さと厚さは、数式により算出することができる。

ベースアークの曲率半径は数式で計算することができます。

ここで入手可能1-矢高、2-中心の厚み、R-ベースアーク曲率半径


キャリブレーション:

任意超音波測定装置の精度はキャリブレーションに依存する。角膜接触鏡の測定では、その精度は塩溶液中の音波の伝送速度と特定のレンズ材料に依存する。塩溶液中の音波速度は温度と濃度によって著しく変化し、レンズ中の音波速度も温度とレンズ成分の影響を受けることに注意してください。

提案されたキャリブレーション方法は、既知の基弧と中心厚のサンプルを恒温下で測定し、その後、超音波厚計の音波をキャリブレーションすることである。キャリブレーションが良好な場合、矢高と中心厚さの誤差範囲は+/- 0.01 mm

製品構成

  • *透過性高精度多層超音波測定器
  • * マイクロ水浸式フォーカスプローブとコネクタ
  • * 多層測定ソフトウェア(含まないPC
  • *測定空洞:アクリル力測定室とレンズホルダを含む
  • *治具システム:上下調節可能な位置決め装置及び4つの治具を含む
  • *治具は、汎用型傾斜治具(黒+白)、クイッククランプ(黒+白)

主な技術パラメータ

  • *厚さ測定範囲:0.08 ~ 635 mm(材料とプローブの配置による)
  • * 材料音速範囲:0.508 mm/μs~13.998 mm/μs
  • * 解像度:低解像度0.1 mm、標準解像度0.01mm、高解像度(オプション)0.001 mm
  • * プローブ周波数範囲:標準:2.0 MHz30 MHz–3 dB)
  • * 検波:全波、RF波、正半波、負半波
  • * 測定レベル数:4レベル(マルチレイヤソフトウェアオプション)
  • * 差分モードと縮小率モードを持つ
  • * 時間ベースBスキャンモード、スキャンごとに取得可能10000個の調べることができる示度
  • * デジタルフィルタを用いた高動的利得技術
  • * 出力インタフェース:MicroSDUSBRS232,VGA
  • * 内蔵データレコード:475000個の厚さ測定示度、または厚さ値の波形20000個
  • * 防護性能:IP 67
  • * 電源:AC/DCアダプタ、24 V;リチウムイオン電池、23.760 Wh;または4セクションAA補助電池。
  • * 治具高さ調整可能範囲:0~15mm
  • *クイッククランプ穴径:15 mm段差穴

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